Peter Borgesen 加入无铅焊料可靠性的研究

周一，2011年7月11日，Dr.Ron Lasky[浏览简历]

大家好，

我在20世纪80年代遇见过Peter Borgesen，当时他在Cornell和Professor Che-Yu Li教授一起工作，做一名研究科学家。后来我们一起在Universal Instruments工作。现在Peter在Binghamton大学当教授。这期间，Peter一直在电子品包装和装配领域从事材料科学相关的课题研究，最主要的是可靠性。除了许多科技技术外，他还是一名有天赋的语言学家，能说许多欧洲的语言。印象深刻的是Peter能用许多欧洲的母语在5分钟的时间里和几名欧洲的毕业生交流，不断地从一个话题切换到另一个话题。

很少有人对无铅焊料可靠性的了解比彼得更加丰富。所以，我想我应该在我最近有关无铅领域可靠性数据的贴子了解一下他的观点。他的评论如下：

大家好，Ron：

我同意天不会塌下来。还有，关于使用寿命我们应该谈得更多(唯一)？我认识到我们对此的认识不多(根据试验结果，我们的预言远离人们想认识的水平)。大多数的从业者都强调“工程试验”如果试验结果的比较不能被转换成相关的性能服务，那么无疑浪费时间和努力。这里许多人“逃避现实”。

我不是很关心无绳电话的使用寿命，并不关心它们在哪些方面的服务比SnPb比做得更好或者更好。金属键一般更容易变坏，或者容易产生零星的缺陷，在讨论莫托罗拉现场数据时，一般造成设备Vahid Goudarzi mentions的洞坑。我认同这些只是少数几个关心的问题，确实不是事关重大的问题。

令人仍然伤痛的是(在关键的应用领域)或者我所关心的问题(在某些昂贵的应用领域)显得比较天真，这些问题我们觉得可以从消费品的电子品经历了解某些零星的灾难或者长期的可靠性。

我也不是很关心与SnPb实际寿命的比较(不再)。我们面临更多的应用(设计与服务条件)，实际上我们对于也没有太多精确关键的经历。第一个挑战算长期老化的影响并不意外，组合加载，衬垫抛光的小差异，接头结构，潜在的损坏，工艺，...使用具体焊料合金的交互作用(!)

虽然我不能推断长期服务寿命的使用结果(我想我们很接近了，但我确实需要额外的1百万才能证明我的推断，转变成一种定量的模式)，我可以展示现在的模式能如何以2-3倍巨量（甚至更大）被关闭(更糟糕的是，它们如何振作替代品的比较)。这显然取决于该应用是否真实地起作用(我同意那些显著削减许多应用试验的公司)。

继续做好工作。

Peter

关于未来如何更新他的观点，我们继续和Peter保持联系。

欢呼，

Ron博士

Uris Tower的图片，Cornell的陆标，Peter和我在Cornell的大部分日子里看见过。

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