Indium-Recycling: Rotierende gegenüber planaren Indium-, CIG und ITO-Targets
Die Rückgewinnung und das Recycling von rotierenden und planaren Sputtertargets mit Indiumanteil.
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Avoid the Void®: Voidbildung in Gold-Zinn-Lötstellen (AuSn20)
Bei der Verwendung von Gold-Zinn-Lot für Hochtemperaturanwendungen und LED-Einsätze kommt es zu einem Anstieg der Voidbildung, der mit der vorhandenen Goldmenge in Verbindung stehen könnte.
Lesen Sie Mehr…Berechnung des Flächenverhältnisses unregelmäßig geformter Aperturen.
Erfahren Sie, wie das Flächenverhältnis ungewöhnlich geformter Aperturen berechnet wird, beispielsweise solche mit der Form eines verlängerten "D".
Lesen Sie Mehr…Die richtige Formel für die Dichte von Lotlegierungen
Berechnen Sie die Dichte von Lotlegierungen.
Lesen Sie Mehr…Maximierung der Maschinenlaufzeiten in der Elektronikfertigung
Maximieren Sie die Maschinenlaufzeiten in der Elektronikfertigung.
Lesen Sie Mehr…Berechnung der Konfidenzintervalle von Cpks beim Schablonendruck
Die elementare Voraussetzung beim Schablonendruck ist die Übertragungseffizienz. Ca. zwei Drittel aller End-of-Line-Mängel sind auf den Schablonendruckprozess zurückzuführen. Die Übertragungseffizienz und deren Einheitlichkeit sind daher extrem wichtige Messgrößen.
Lesen Sie Mehr…Untersuchung der „Nasses Gold“-Technik zur Messung des Goldanteils
Was ist die „Nasses Gold“-Technik? Wie funktioniert sie?
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