Peter Borgesen insiste sur la fiabilité du brasage sans plomb

Lundi 1^er juillet 2011 par le Dr. Ron Lasky [voir biographie]

Les amis,

J’ai rencontré Peter Borgesen au milieu des années 80 lorsqu’il était chercheur à Cornell et travaillait avec le Professeur Che-Yu Li. Plus tard nous avons travaillé ensemble à Universal Instruments. Actuellement Peter est professeur à l’Université de Binghamton. Pendant toute cette période, Peter a travaillé sur des sujets relatifs à la science des matériaux d’emballage et d’assemblage électronique, surtout sur la fiabilité. En plus de ses nombreuses compétences techniques, c’est un linguiste doué qui parle plusieurs langues européennes. J’ai en mémoire Peter s’adressant à des étudiants diplômés européens dans leurs langues maternelles respectives pendant 5 minutes en passant de l'une à l'autre sans effort.

Peu de personnes en savent plus sur la fiabilité du brasage sans plomb que Peter. J’ai don pensé que je publierai son point de vue dans mon dernier message sur les données de fiabilité du sans plomb sur le terrain.

Bonjour Ron,

Je suis d’accord que cela n’est pas grave. Par ailleurs, nous devrions parler beaucoup plus (uniquement?) de la durée d'utilisation. Je réalise que nous n’en savons pas assez à ce sujet (et nos prédictions basées sut des résultats de tests sont bien plus décalées que les personnes veulent l’admettre). La grande majorité des spécialistes qui se concentrent sur des « tests d’ingénierie » s’en sortent moins bien qu’un simple gaspillage de temps et d’efforts si les comparaisons des résultats des tests ne se traduisent pas en performance relative de service. Beaucoup font l’autruche.

Je ne m’inquiète pas de la vie à long terme des téléphones mobiles et je ne suis pas très inquiet au sujet de leur performance d'utilisation avec du SnPb. Les liens intermétalliques s’affaiblissent en général et sont plus enclin à des défauts sporadiques et la formation de creux est améliorée pour les appareils que Vahid Goudarzi cite dans la discussion sur les données de terrain Motorola. Je conviens que ce sont des problèmes limités, rien de vraiment grave.

Ce qui me fait encore peur (dans le cas d’applications critiques) ou m’inquiète (dans le cas d’applications coûteuses) est la naïveté avec laquelle beaucoup semblent penser que nous pouvons en apprendre plus au sujet des catastrophes ponctuelles ou de la fiabilité à long terme à partir d’expériences des consommateurs d’électronique.

Je ne m’intéresse pas souvent aux comparaisons de la durée de vie réelle du SnPb non plus (plus maintenant). Nous faisons face à de plus en plus d’applications (conceptions et conditions d’utilisation) pour lesquelles nous n’avons pas non plus assez d’expérience cruciale précise avec le SnPb. Le premier défi consiste à ne pas être surpris par les conséquences du vieillissement à long terme, les combinaisons de chargement, les différences mineures de finition d’amorti, la configuration des joints, les dommages latents, la procédure….et leurs interactions pour l’alliage de brasage spécifique utilisé ( !).

Alors que je ne peux pas extrapoler les résultats des tests pour la durée de vie à long terme (je pense que nous en sommes proches, mais j’ai vraiment besoin d’un million de $ supplémentaire pour prouver mon hypothèse et en faire un modèle quantitatif), je peux montrer comment les modèles actuels peuvent facilement être décalés de 2 ou 3 ordres d'importance ou plus (pire, comment ils peuvent fausser les comparaisons d'alternatives). Que cela soit important dépend de toute évidence de l’application (je me range du côté des entreprises qui ont grandement réduit les tests pour de nombreuses applications).

Continuons à faire du bon travail.

Peter

Je resterai en contact avec Peter à l’avenir pour faire des mises à jour de son point de vue.

Au plaisir,

Dr. Ron

L’image est celle de la Uris Tower, un symbole de Cornell, que Peter et moi voyions presque tous les jours lorsque nous étions à Cornell.

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