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VACÍOS A RAYA™: Formación de vacíos en grandes planos de tierra de montajes electrónicos: Perfil de reflujo

Friday, March 25, 2016

En una publicación anterior hablé sobre la formación de vacíos en grandes planos de tierra de dispositivos electrónicos e hice referencia a una herramienta estadística llamada el diagrama de Ishikawa.  Esta herramienta ayuda a trazar un proceso y proporciona una excelente ayuda visual que ayuda a mostrar las posibles causas de defectos y los efectos que puedan tener las variables de proceso.  Este diagrama de Ishikawa en particular mostró que el diseño de perfil de reflujo puede tener un efecto grande sobre la formación de vacíos.  Hoy profundizaré en esta área un poco más y hablaré sobre cómo se puede minimizar la formación de vacíos de soldadura en grandes planos de tierra en montajes electrónicos con diferencias en el Perfil de reflujo.

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