Voller Erfolg der Indium Corporation beim Burn-in and Test Strategies Workshop

Man weiß nicht immer im Voraus, wie eine Veranstaltung ablaufen wird. Haben wir die richtige Botschaft? Ist sie an das richtige Publikum gerichtet? Werden die richtigen Leute unseren Stand besuchen?

Dieses Jahr haben wir bereits zum zweiten Mal auf der BiTS (Burn-in and Test Strategies) in Chandler (Arizona) ausgestellt. Angesichts der Reaktion auf unsere Teilnahme hatten wir eindeutig die richtige Botschaft für das richtige Publikum und ein reges Interesse an unserem Stand.

Die Organisatoren der BiTS tun dies seit 19 Jahren und haben eine großartige Formel entwickelt, um Teilnehmer mit fantastischen technischen Programmen, Postern und Seminaren anzuziehen. Dieses Jahr haben wir abgesehen von unserem Messestand mit einem Seminar und einem technischen Vortrag beigetragen (beide wurden von Dave Saums aus dem Bereich DS&A gehalten). Darüber hinaus durften wir den Hauptredner vorstellen, Gayn Erickson von Aehr Test Systems.

Unser Hauptschwerpunkt lag auf unseren metallischen TIMs, darunter unser Heat-Spring^® zur Verwendung während des Halbleiter-Einbrennverfahrens. Diese Werkstoffe halten multiplen Bestückungen stand und bieten eine hervorragende Wärmeleitfähigkeit.

Das am Sonntag gehaltene Seminar hatte eine großartige Beteiligung. Dave Saums schaffte es trotz des heftigen Sturms an der Ostküste sogar rechtzeitig zum Veranstaltungsort. Sein Seminar mit dem Titel „Testing and Selecting Thermal Interface Materials for Semiconductor Test and Burn-in Applications“ fand regen Anklang und führte zu zahlreichen interessanten Diskussionen zum Thema metallische TIMs. Dies ist eindeutig ein Bereich, in dem Dave sehr kompetent ist und das Publikum war bereit, etwas Neues zu lernen. Das Seminar umfasste auch Bestückungsprüfungen, die wir mit unseren Heat-Spring- und anderen wärmeleitenden Werkstoffen  zusammen mit der Berliner Nanotest und Design GmbH durchgeführt haben.

Obwohl der technische Vortrag „Mechanical Insertion and Thermal Performance Testing Evaluation of Metallic TIMs for Semiconductor Test and Burn-in Applications“ einen längeren Titel hatte, standen die Ergebnisse der Bestückungsprüfungen im Vordergrund, bei denen 1000 Bestückungen ohne Verschlechterung der metallischen TIMs durchgeführt wurden. Zukünftige Blogbeiträge stellen weitere Daten zu diesen Prüfungen vor.  Falls Sie an den ersten Ergebnissen interessiert sind, wenden Sie sich bitte an mich unter cgowans@indium.com.