Evaluación de la confiabilidad de campo y tasas de defectos en ensamble de dispositivos electrónicos

Friday, April 8, 2016
 

Este video se destina a ensambladores de dispositivos electrónicos a quienes se les requiera evaluar la confiabilidad de campo. Incluye la determinación de si el muestreo estadístico puede comprobar o no que existen cero defectos.

Palabras clave: indio, Indium Corporation, Dr. Ron Lasky, ronlasky@aol.com, Phil Zarrow, itm@itmconsulting.org, tasa de defectos, confiabilidad, plan de muestreo

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