인듐과 알루미늄의 갈바닉 부식....정말 우려해야 할까요???

제 동료와 저는 압착 씰 또는 써멀 패쓰를 생성하기 위해 알루미늄 표면에 인듐을 사용하기 원하는 고객과 대화를 몇 번 나눈 적이 있었습니다. 이러한 적용에 대한 많은 관심이 갑자기 끊어진 것은 어디에선가 누군가 인듐 대 알루미늄은 갈바닉 부식에 취약하다는 지적을 했기 때문입니다. 우리의 수많은 고객들이 이와 동일한 시나리오로 인듐과 알루미늄을 하루 종일, 매일, 세계 각지에서 사용하고 있지 않다면 저도 이의를 제기하려 하지 않았을 것입니다. 그런데 그럴 수가 없습니다. 과학자로서 이 시나리오에서 부식이 진정한 위협인지 여부를 입증해야 될 것 같습니다. 그래서 폐품 인듐 리본과 폐품 인듐 HeatSpring®을 취해 알루미늄 계랑 접시 바닥에 압착한 후 ~120 시간(5일) 동안 항온 항습 챔버에 넣어 두었습니다. 항온 항습 챔버의 조건은 85°C 및 85%RH였습니다. 또한 리본 조각을 컨트롤로서 사용하기 위해 플라스틱 계량 접시에 담아 두었습니다. 역시 이것들을 인듐/알루미늄 표본으로서 동시에 그 챔버에 넣었습니다.

아래 도판에 예시된 것은 열과 습도에 노출되기 전 알루미늄 접시 바닥에 압착된 인듐 리본을 촬영한 사진입니다.

다음 사진은 5일 간 85°C/85%RH에 노출 된 후에 컨트롤로서(플라스틱 계량 접시에 놓인) 사용될 인듐 리본의 상부입니다. 부식된 부분이 눈에 띕니다. 이것은 그러한 열과 습도 환경에서 인듐의 "자연적인" 부식을 보여 줍니다.

다음 도판은 인듐 리본의 밑면을 보여 주는데, 리본의 이 면이 열과 습도 조건에서 플라스틱 계량 접시와 직접 접촉했습니다. 리본의 이 면에 명확한 부식 부위가 있습니다.

이 도판은 항온/항습 챔버에서 꺼낸 후의 인듐이 담긴 알루미늄 접시를 보여 줍니다. 인듐 리본 또는 알루미늄 접시에서 현저한 부식은 발생하지 않았습니다.

인듐 리본 밑면을 검사하면 플라스틱 계량 접시에 놓아 둔 컨트롤 리본에 생긴 부식과 유사한 부식이 발생했음을 알 수 있습니다.

알루미늄 접시는 항온/항습 조건 하에서 인듐과의 접촉으로부터 부정적인 효과를 전혀 보이지 않았습니다.

이 간단한 실험 결과 및 이와 정확히 동일한 시나리오를 하루 종일, 매일, 세계 각지에서 안전하고 안정되게 이미 사용해 온 수많은 고객들에 의해 알루미늄과 인듐의 직접 접촉을 포함하는 적용은 갈바닉 부식 우려와 무관하다고 저는 결론을 내리는 바입니다.

어떠한 적용이든 그 운영 환경에서 특정 기기의 안정성을 보증하기 위해 모든 가능한 검사를 할 필요가 있다는 것은 항상 권장되는 사항입니다.

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