Indium Corporation®

Indium Corporation Blog

  • People
    • Careers
    • Employee Bios
    • Facilities
    • Markets We Serve
    • Corporate Communications
    • Quality
    • Social Responsibility
    • Universities & Research
  • Products
    • Electroplating
    • Fluxes
    • Inorganic Compounds
    • Metals
    • Reclaim & Recycle
    • Solders
    • Thermal Interface Materials
    • Thin-Film Materials
  • Applications
    • Brazing & High-Temperature Soldering
    • Connector & Cable Assembly
    • PCB Assembly
    • Sealing
    • Semiconductor Packaging & Assembly
    • Soldering to Gold
    • Target Bonding
    • Thermal Evaporation & PVD Coating
    • Thermal Management
  • Contact Us

Main INDIUM CORPORATION Blog

Kehren Sie of die Hauptseite des Blogs zurück ↑

Deutsch Español Française 한국어

Verwendung von C-Regelkarten für unterschiedlich große Datensätze

Tuesday, April 18, 2017

Leute,

C-Regelkarten sind Kontrolldiagramme, die zur Darstellung von Attributdaten verwendet werden. Nehmen Sie beispielsweise an, dass Sie die Mängel am Ende eines SMT-Bestückungsprozesses kontrollieren. Die Geschäftsführung möchte wissen, wie viele Mängel pro 10.000 Bestückungen auftreten. Sie kontrollieren daher die Anzahl der Mängel pro 10.000 gefertigte Bestückungen. Nehmen wir weiterhin an, dass Sie diese Attributdaten als leitender Prozessingenieur seit 6 Monaten sammeln. Lassen Sie uns zur Vereinfachung der Analyse außerdem annehmen, dass dies ebenfalls die Anzahl der jeden Tag gefertigten Bestückungen ist. Auf der Abbildung 1 ist eine C-Regelkarte der Daten dargestellt. Die angegebene Verletzung der Shewhart-Regel 1 dürfte sicherlich auf eine Variation aufgrund allgemeiner Ursachen zurückzuführen sein.

Abbildung 1. C-Regelkarte für Datensätze von 10.000.

Sie machen zwei Wochen Urlaub und bitten einige Ihrer überarbeiteten Kollegen, die Fertigungslinie zu überwachen und die Attributdaten zu sammeln. Leider kommt es aufgrund Ihrer Abwesenheit zu einigen Prozessproblemen in der Fertigungslinie. Daher werden jeden Tag nur 5.000 Bestückungen gefertigt. Die Geschäftsführung möchte die neuen Daten jetzt mit den alten vergleichen, die Stichprobengrößen weichen jedoch voneinander ab. Es ist sinnvoll, einfach die Anzahl der Mängel pro 5.000 mit dem Quotienten der Stichprobengrößen zu multiplizieren, in diesem Fall also 2 (10.000/5.000). Diese neuen, modifizierten Daten können dann zu den alten Daten hinzugefügt werden, um eine aktualisierte C-Regelkarte zu zeichnen. In unserem Fall traten an den ersten drei Tagen 31, 23 und 21 Mängel pro 5.000 Bestückungen auf. Mit 2 multipliziert werden aus diesen Datenpunkten jetzt 62, 46 und 42 Mängel. Indem die in den zwei Wochen erhaltenen Daten auf diese einfache Weise berechnet und dann zur alten C-Regelkarte hinzugefügt werden, erhalten Sie die neue C-Regelkarte der Abbildung 2.

Abbildung 2. Indem jede Mängelanzahl des neuen Datensatzes mit 2 multipliziert wird, können die neuen Daten zu den alten hinzugefügt und eine neue C-Regelkarte erstellt werden. Beachten Sie, dass die Mängelrate bezüglich der neuen Daten größer ist, wie die vielen Verletzungen der Shewhart-Regel 1 beweisen.

Beachten Sie, dass die neuen Daten auf eine höhere Mängelrate hinweisen, wie die vielen Verletzungen der Shewhart-Regel 1 beweisen. Diese Ergebnisse belegen die gute Arbeit, die Sie zur Unterstützung des Bestückungsprozesses leisten. Die Produktion ist während Ihrer Abwesenheit nicht nur 50 % gesunken, sondern die Mängelrate außerdem erheblich angestiegen.

Ich habe eine Excel-Tabelle entwickelt, um diese Datenumwandlungen durchzuführen. Senden Sie mir einfach eine E-Mail, falls Sie daran interessiert sind, und ich maile Ihnen die Tabelle.

Danke,

Dr. Ron

Wollen Sie mehr lesen? Besuchen Sie das Archiv Inhaltsverzeichnis oder kehren Sie of die Hauptseite des Blogs zurück.

From One Engineer to Another®

Indium Corporation — ©1996–2021. All Rights Reserved.

Subscribe

Feed

Email

(What’s this?)

Translations

  • English
  • German
  • Spanish
  • French
  • Korean
  • Chinese (Simplified)
  • Chinese (Traditional)

Neue Einträge

Durafuse™ LT – HF-Abschirmung
Feb 26
Durafuse™ LT – mit LEDs?
Feb 8
Was muss ein Niedrigtemperatur-Lot erfüllen?
Feb 5
Die 72er-Regel
Jan 31
Lot in medizinischen Geräten
Jan 18

« View All Entries »

Process Calculators
Safety Data Sheets
Product Data Sheets
Quality
Online Store
Tech Team

Connect with Indium.
Read our latest posts!

  • LinkedIn
  • Facebook
  • Twitter
  • YouTube
  • Blogger
Americas

Utica, Chicago, Clinton
E-Mail: askus@indium.com
Phone: +1 315 853 4900

Asia/Pacific

Singapore, Cheongju
E-Mail: asiapac@indium.com
Phone: +65 6268 8678
日本語
한국어 웹사이트

Penang
E-Mail: techhub@indium.com

China

Suzhou, Shenzhen
E-Mail: china@indium.com
Phone: +86 (0)512 628 34900
中国网站

Europe

Milton Keynes, Torino
E-Mail: europe@indium.com
Phone: +44 (0)1908 580400

Regional/Local Sales Support
Technical Service & Support

  • Home
  • Buy Online
  • ISO and ITAR
  • Corporate
  • Tech Documents
  • SDS
  • About Us
  • Jobs
  • Indium Calculation Tools